先进制程是半导体产业的核心竞争力，而亚微米级检测精度是保障先进制程良率的关键。伟特科技 WI8I 晶圆检测系统，以亚微米级光学成像与检测算法，为 7nm 及以下先进制程晶圆提供极致精准的质量把控，成为高端芯片制造的 “质量守门人”ViTrox。

WI8I 搭载高分辨率视觉光学系统与亚微米精度变焦镜头，

当前，半导体市场呈现 “多品种、小批量、快速迭代” 的发展趋势，传统检测设备因切换复杂、调试周期长，难以适配这种生产模式。伟特科技 WI8I 晶圆检测系统，以极致的柔性设计与快速换型能力，完美破解高混合、小批量生产的检测痛点，成为中小批量、多品种晶圆产线的最佳选择。

WI8I 采用模块化硬件设计与智能

在智能制造时代，数据是企业的核心资产。伟特科技 WI8I 晶圆检测系统，以全流程数据采集与深度分析能力，打破检测与生产的信息孤岛，让晶圆检测从单纯的 “缺陷拦截” 升级为 “工艺优化引擎”，助力企业实现数字化、智能化生产转型ViTrox。

WI8I 内置伟特大数据分析平台，可实时采集、存储、分析每一片

随着半导体制程向 7nm、5nm 甚至 3nm 演进，晶圆缺陷的微小化、复杂化对检测设备提出了前所未有的挑战。伟特科技 WI8I G2 PRO，以深度学习算法为核心，重新定义晶圆检测精度标准，让 “零漏检、零误判” 从理想变为现实，成为先进制程检测的首选方案。

WI8I G2 PRO 搭载伟特最新研发

在半导体制造的激烈竞争中，产线效率与检测精度是决定企业生死的关键。伟特科技 WI8I 晶圆视觉检测系统，以 “一机多能” 的革命性设计，彻底打破传统检测设备的场景壁垒，成为覆盖晶圆前道（切割前裸片）与后道（切割后铁环 / 框架晶圆）的全能检测平台，为 MEMS、RF、CIS、存储芯片等高端制程提供一

在 SMT/EMS/PCBA 制造领域，检测一直是产能的瓶颈。尤其面对高密、双面、多层板的复杂生产，传统检测设备速度慢、效率低，导致产线排队、后段积压。伟特（ViTrox）AXI 正是为解决这一核心痛点而生。

依托伟特独家的高速 3D X 射线扫描架构与多核并行处理器，标准版伟特 AXI 的检测速度可

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活动时间：2026.03.25-2026.03.27

活动地点：上海

看配件，你知道这个是什么阀吗？