Koh Young高扬Aoi自动光学检查Meister D/D+

设备尺寸(W*D*H): W1200 x D1710 x H1900 mm

设备重量: 约850kg

电源要求: 单相 AC220V ±10%, 2.2kW

气源要求: 0.5~0.8MPa

设备简介:Koh Young（高迎）Meister D/D+ 是面向高密度基板与镜面元器件的在线式真 3D AOI，采用最新光学系统与 AI 检测引擎，可检测 0201 metric（008004 EIA）级 Die 与小元件，最小间距 40µm（@3.5µm 光学），Z 分辨率 1µm。Meister D+ 在 D 的基础上增加倾斜光学与莫尔条纹技术，实现对高反光镜面 Die 的全 3D 高度及翘起测量。支持 Laminate、金属载具、JEDEC Tray、晶圆环等多种载具，适用于 SiP、MCM、Chiplet、Interposer、2.5D 堆叠等先进封装以及 Mini/Micro-LED 的晶粒贴装后检测。展开更多