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ELT Group 艾兰特 3D X-RAY检查机 MirXT-160

设备尺寸(W*D*H):

设备重量:

电源要求:

气源要求:

设备简介:3D CT X-RAY检测系统MirXT-160专为晶片技术、SMT、封装检测、半导体及实验室应用量身定制。可对BGA、CSP、倒装芯片、LED等半导体进行3D检测,还可用于SMT焊接分析,3D断层CT扫描系统(平面CT+维束CT)。展开更多

设备参数
设备文档
配件清单
系统放大倍率和分辨率
几何放大倍率
2100x
总放大倍率
>23000X
细节分辨率
可达 0.35 微米
亚微米x射线管
类型
开放式微米管、透射管头、170°辐射角、准直功能
最大管电压
160KV
最大功率
20W
无毒载体钨靶,并可旋转以多次使用
灯丝
钨丝,经预调的即插式结构,更换简单快捷,20分钟内完成
真空系统
无油式低真空泵+涡轮分子真空泵
探测器
1536*1536 pixel
操控平台
X光自动导航系统,可实现内部外部导航
总体结构
高精度抗震动、6 轴同步驱动
最大检测范围
410mmx410mm
最大工件尺寸/重量
510mmx510mm/5kg
探测器 WNW 三角视图旋转
可调视角 70°,n*360°
操控方式
摇杆控制、鼠标、键盘,数控编程控制(自动模式)
操控辅助功能
X射线影像导航功能,鼠标定位追踪,鼠标缩放功能,自动保持视野中心功能,激光定位准
防碰撞系统
防止检测样品与射线管产生碰撞

暂无数据

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