解锁 AOI 四大算法模组:如何用数据策略,打造设备的「无数据焦虑」竞争力?
自动光学检测(AOI)正从传统的视觉系统,加速转型为结合AI的智能检测方案。
然而,面对「AI AOI」的黑盒,很多市面上把所有「带 AI」的 AOI 都混在一起讲,如果不了解算法特性,就很容易「期待错误、导入错误、效果失望」。
下面我们用最关键的三个维度拆解常见的 AOI 算法:
基于规则 (Rule-Based) 或电脑视觉 (CV) 的 AOI
这类系统不是 AI,而是早期的或较简单的 AOI。它们的工作原理是:
无需学习/训练: 它们不依赖机器学习模型,因此不需要缺陷数据来训练。
依赖工程师设定: 检测标准由工程师手动定义,例如「如果像素值超过 150 且形状为圆形,则为缺陷」、「测量 A 点到 B 点的距离必须在5±0.01mm之间」。
适用场景:适合于缺陷特征非常明确、形状规则、背景干净且变化少的产品。
基于「异常检测」的 AI AOI
它们在训练阶段通常只使用大量的良品数据(Good Samples),而不需要大量缺陷数据:
训练目标: 模型学习的是良品的正常样子(Normal Pattern),建立良品的「常态」模型。
检测原理: 在实际检测时,任何与良品常态显著不同的图像(无论是划痕、气泡还是污渍)都会被标记为异常 (Anomaly)。
适用场景: 适用于产品中缺陷种类繁多、难以定义,或缺陷出现频率极低(收集困难)的情况,例如:复杂曲面的表面瑕疵检测、新型材料的检测。
使用「预训练模型」和「迁移学习」
这类 AI AOI 系统在实际部署时可能不需要从头开始收集大量缺陷数据:
原理: 开发者使用一个已经在数百万张通用图像上训练好的基础模型(例如,在 ImageNet 上训练的图像分类器)。
优势: 当应用于新的特定产品线时,只需用少量的该产品缺陷数据进行微调 (Fine-Tuning) 即可,大幅减少了从零开始训练所需的数据量和时间。
结论: 虽然最终仍需要一些缺陷数据,但不需要从零开始的大规模数据集。

【表】四种 AOI 模式概览
从“硬件差异化”迈向“算法差异化”
真正的竞争力,不是某一个单独的模型,而是对「不同算法—不同数据策略—不同场景」的精准匹配能力。
在工业现场,模型不是越大越好,数据也不是越多越好。真正领先的 AI AOI,是能够在毫无数据的产线、缺陷稀少的新材料、以及高频变更的工艺中,都能保持稳定可靠。
当设备能灵活切换策略、匹配正确模型、摆脱“数据焦虑”,就能持续把检测性能拉到新高度。
未来的AOI,不是只有一种模型。而是一个能适应产品线变化,灵活应用的检测智能体。
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